Perbedaan Antara AFM dan SEM

Perlu AFM vs SEM

Perlu untuk menjelajahi dunia yang lebih kecil, telah berkembang pesat dengan perkembangan baru teknologi baru seperti nanoteknologi., mikrobiologi dan elektronika. Karena mikroskop adalah alat yang menyediakan gambar yang diperbesar dari objek yang lebih kecil, banyak penelitian dilakukan untuk mengembangkan berbagai teknik mikroskopi untuk meningkatkan resolusi. Meskipun mikroskop pertama adalah solusi optik dimana lensa digunakan untuk memperbesar gambar, mikroskop resolusi tinggi saat ini mengikuti pendekatan yang berbeda. Scanning Electron Microscope (SEM) dan Atomic Force Microscope (AFM) didasarkan pada dua pendekatan berbeda tersebut.

- AFM menggunakan tip untuk memindai permukaan sampel dan ujung naik dan turun sesuai dengan sifat permukaan. Konsep ini mirip dengan cara orang buta memahami permukaan dengan mengusapkan jarinya ke seluruh permukaan. Teknologi AFM diperkenalkan oleh Gerd Binnig dan Christoph Gerber pada tahun 1986 dan tersedia secara komersial sejak tahun 1989.

Tipnya terbuat dari bahan seperti berlian, silikon dan nanotube karbon dan menempel pada kantilever. Tip yang lebih kecil semakin tinggi resolusi pencitraan. Sebagian besar AFM saat ini memiliki resolusi nanometer. Berbagai jenis metode digunakan untuk mengukur perpindahan kantilever. Metode yang paling umum adalah menggunakan sinar laser yang direfleksikan pada kantilever sehingga defleksi sinar yang dipantulkan dapat digunakan sebagai ukuran posisi kantilever.

Karena AFM menggunakan metode untuk merasakan permukaan dengan menggunakan probe mekanis, ia mampu menghasilkan gambar 3D sampel dengan memeriksa semua permukaan. Hal ini juga memungkinkan pengguna untuk memanipulasi atom atau molekul pada permukaan sampel menggunakan ujungnya.

Scanning Electron Microscope (SEM)

SEM menggunakan berkas elektron dan bukan cahaya untuk pencitraan. Ini memiliki kedalaman yang besar di lapangan yang memungkinkan pengguna mengamati gambar permukaan sampel yang lebih terperinci. AFM juga memiliki kontrol yang lebih besar dalam jumlah pembesaran karena sistem elektromagnetik sedang digunakan.

Dalam SEM, berkas elektron diproduksi dengan menggunakan senapan elektron dan melewati jalur vertikal di sepanjang mikroskop yang ditempatkan dalam ruang hampa. Bidang listrik dan medan magnet dengan lensa memfokuskan berkas elektron ke spesimen. Begitu berkas elektron menyentuh permukaan sampel, elektron dan sinar-X dipancarkan. Emisi ini dideteksi dan dianalisis agar bisa meletakkan gambar material di layar. Resolusi SEM dalam skala nanometer dan bergantung pada energi balok.

Karena SEM dioperasikan dalam ruang hampa dan juga menggunakan elektron dalam proses pencitraan, prosedur khusus harus diikuti dalam persiapan sampel.

SEM memiliki sejarah yang sangat panjang sejak pengamatan pertamanya dilakukan oleh Max Knoll pada tahun 1935. SEM komersial pertama tersedia pada tahun 1965.

Perbedaan antara AFM dan SEM

1. SEM menggunakan berkas elektron untuk pencitraan dimana AFM menggunakan metode untuk merasakan permukaan menggunakan probing mekanis.

2. AFM dapat memberikan informasi permukaan 3 dimensi meski SEM hanya memberikan gambar 2 dimensi.

3. Tidak ada perlakuan khusus untuk sampel di AFM tidak seperti SEM dimana banyak pra perawatan diikuti karena lingkungan vakum dan berkas elektron.

4. SEM dapat menganalisa luas permukaan yang lebih besar dibandingkan AFM.

5. SEM dapat melakukan pemindaian lebih cepat daripada AFM.

6. Meskipun SEM hanya bisa digunakan untuk pencitraan, AFM dapat digunakan untuk memanipulasi molekul selain pencitraan.

7. SEM yang diperkenalkan pada tahun 1935 ini memiliki sejarah yang jauh lebih panjang dibandingkan dengan yang baru-baru ini (pada tahun 1986) diperkenalkan AFM.

Perbedaan Antara AFM dan SEM

Direkomendasikan